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Document quand l'auteur est "Lombard, Éloi"

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Lombard, Éloi (2025). Détection de défauts dans les scans sectoriels avec des architectures d’apprentissage profond avancées. Mémoire de maîtrise électronique, Montréal, École de technologie supérieure.

Cette liste a été générée le Fri Mar 20 01:17:31 2026 EDT.
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