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Louati, Ali (2017). Nouvelle technique de test de type délai plus robuste à la variation d'impédance du réseau de distribution d'alimentation. Mémoire de maîtrise électronique, Montréal, École de technologie supérieure.

Souari, Anis (2016). Stratégies facilitant les tests en pré-certification pour la robustesse à l'égard des radiations. Thèse de doctorat électronique, Montréal, École de technologie supérieure.

Renquinha, Nik (2014). Amélioration de la technique de test et diagnostic CDIDDQ. Mémoire de maîtrise électronique, Montréal, École de technologie supérieure.

Bouanen, Safwen (2014). Interface de transducteurs intelligents tolérante aux pannes pour des applications avioniques critiques. Mémoire de maîtrise électronique, Montréal, École de technologie supérieure.

Bouanen, Marwen (2013). Un système de communication OFDM à faible probabilité d'interception. Mémoire de maîtrise électronique, Montréal, École de technologie supérieure.

Larche, Justine (2013). Émulation et comparaison du mode test et du mode fonctionnel des circuits intégrés à horloges multiples. Mémoire de maîtrise électronique, Montréal, École de technologie supérieure.

Khaled, Haithem (2011). Adaptation de l'approche de test CDIDDQ aux circuits programmables FPGA. Mémoire de maîtrise électronique, Montréal, École de technologie supérieure.

Hobeika, Christelle (2011). Méthodologie de vérification automatique basée sur l'utilisation des tests structurels de transition avec insertion de registres à balayage. Thèse de doctorat électronique, Montréal, École de technologie supérieure.

Dulipovici, Andrei (2011). Signatures des circuits ASIC - approche pour détermination des pannes systématiques. Mémoire de maîtrise électronique, Montréal, École de technologie supérieure.

Provencher, Luc (2010). Développement d'une infrastructure pour l'accélération sur matériel de la simulation numérique. Mémoire de maîtrise électronique, Montréal, École de technologie supérieure.

El-Kafrouni, Roger (2010). Enhancement and validation of a test technique for integrated circuits. Mémoire de maîtrise électronique, Montréal, École de technologie supérieure.

Plourde, Frédéric (2009). Développement d'une méthodologie d'estimation de l'utilisation des ressources mémoires sur une puce DSP multi-noyaux. Mémoire de maîtrise électronique, Montréal, École de technologie supérieure.

Hariri, Yassine (2008). Étude de faisabilité d'une méthodologie de test exploitant le test par le courant IDDQ, et l'intéraction d'autres méthodes de test de diagnostic. Thèse de doctorat électronique, Montréal, École de technologie supérieure.

Tremblay, Daniel (2007). Optimisation des méthodes de tests des circuits numériques. Mémoire de maîtrise électronique, Montréal, École de technologie supérieure.

Leclerc, Normand (2003). Conception d'une plateforme de tests de circuits d'intégration directe sur tranche. Mémoire de maîtrise électronique, Montréal, École de technologie supérieure.

Hammache, Hicham (2003). Méthode de test basée sur les chaînes parallèles de courant. Mémoire de maîtrise électronique, Montréal, École de technologie supérieure.

Ben Letaifa, Abdelkader (2002). Réalisation d'un prototype testable par la méthode de chaînes parallèles de courant. Mémoire de maîtrise électronique, Montréal, École de technologie supérieure.

Hariri, Yassine (2002). Amélioration de la méthode de diagnostic basée sur les signatures probabilistes de AIDDQ. Mémoire de maîtrise électronique, Montréal, École de technologie supérieure.

Cherraj, Hassan (2001). Conception et réalisation d'un dispositif de prétraitement de signaux radar en utilisant le VHDL. Mémoire de maîtrise électronique, Montréal, École de technologie supérieure.

Bongo, Isabelle (2000). Détection de signaux radar et estimation de leurs temps d'arrivée. Mémoire de maîtrise électronique, Montréal, École de technologie supérieure.

Cette liste a été générée le Sun Jul 22 01:31:05 2018 EDT.